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集成电路EMC测试项目

电子设备和系统的生产商努力改进他们的产品以满足电磁兼容规范，降低电磁发射和增强抗干扰能力。过去，集成电路生产商关心的只是成本，应用领域和使用性能，几乎很少考虑电磁兼容的问题。即使单片集成电路通常不会产生较大的辐射，但它还是经常成为电子系统辐射发射的根源。当大量的数字信号瞬间同时切换时便会产生许多的高频分量。

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  • 表面扫描法 辐射抗扰度

    [●表面扫描法 辐射抗扰度]

    表面扫描法 辐射抗扰度

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  • IC带状线法 辐射抗扰度

    [●IC带状线法 辐射抗扰度]

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  • GTEM小室法 辐射抗扰度

    [●GTEM小室法 辐射抗扰度]

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  • GTEM小室法 辐射发射测试

    [●GTEM小室法 辐射发射测试]

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  • 非同步瞬态注入法 传导抗扰度

    [●非同步瞬态注入法 传导抗扰度]

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  • 同步瞬态注入法 传导抗扰度

    [●同步瞬态注入法 传导抗扰度]

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