表面扫描法辐射抗扰度

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表面扫描法辐射抗扰度

发布时间: 2020-06-28 20:22

表面扫描法是一种评估近场、磁场或电磁场元件对集成电路（IC）影响的方法。该方法可用于IC架构分析，如层级规划和配电优化。本方法适用于测试扫描探针可接触到的IC。在某些情况下，表面扫描法不仅可以扫描IC，还可以扫描其环境（如PCB）。

商品信息

主要标准：
IEC 62132-1:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions
IEC 62132-9:Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity-Part 9: Measurement of radiated immunity – Surface scan method
测试介绍：
表面扫描法是一种评估近场、磁场或电磁场元件对集成电路（IC）影响的方法。该方法可用于IC架构分析，如层级规划和配电优化。本方法适用于测试扫描探针可接触到的IC。在某些情况下，表面扫描法不仅可以扫描IC，还可以扫描其环境（如PCB）。
测试配置布置图：
主要测试设备：IC辐射抗扰度测试系统等
测试环境：屏蔽室