GTEM小室法

咨询热线：0571-86836537(10Lines)

你的当前位置：

网站首页 ≡ 产品类别 ≡ ●集成电路EMC测试项目 ≡ ●GTEM小室法辐射发射测试 ≡ GTEM小室法辐射发射测试

GTEM小室法辐射发射测试

发布时间: 2025-02-14 17:38

GTEM小室可以等效为截面渐变的阻抗为50Ω的同轴线。它的一端与50Ω同轴线连接，另一端接均匀分布的匹配负载，包括锥形吸波材料和芯板末端用于阻抗匹配的电阻。GTEM小室的外形为四棱锥形，侧面安装屏蔽门，锥顶处为50Ω同轴转换头，同轴接头内导体向锥底部膨大成三角形金属板，终端进行阻抗匹配，并铺设微波吸波材料。内导体向顶部倾斜，以留给被测件更大的空间。小室的密闭性很重要，任何缝隙或泄露都可能影响小室的反射、吸收、阻抗、场均匀性等指标，并带来测量误差。

商品信息

主要标准：
IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions
IEC 61967-2:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2:Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method
测试介绍：
GTEM小室可以等效为截面渐变的阻抗为50Ω的同轴线。它的一端与50Ω同轴线连接，另一端接均匀分布的匹配负载，包括锥形吸波材料和芯板末端用于阻抗匹配的电阻。GTEM小室的外形为四棱锥形，侧面安装屏蔽门，锥顶处为50Ω同轴转换头，同轴接头内导体向锥底部膨大成三角形金属板，终端进行阻抗匹配，并铺设微波吸波材料。内导体向顶部倾斜，以留给被测件更大的空间。小室的密闭性很重要，任何缝隙或泄露都可能影响小室的反射、吸收、阻抗、场均匀性等指标，并带来测量误差。
测试配置布置图：
主要测试设备：GTEM小室等
测试环境：屏蔽室