LANGER抗干扰开发系统

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抗干扰开发系统

发布时间: 2025-02-26 20:57

抗扰度开发系统帮助您定位组件和设备内部的群脉冲（Burst/EFT）和静电放电（ESD）薄弱点。该系统通过模拟真实的电磁干扰环境，识别设备在群脉冲和静电放电干扰下的脆弱环节，从而帮助开发人员优化设计，提高设备的抗干扰能力，确保其符合电磁兼容性（EMC）标准。

商品信息

抗干扰开发系统

E1 set

E1抗干扰开发系统

E1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。采用E1抗干扰开发系统，能够快速精准地定位脉冲群干扰和静电放电干扰的原因（薄弱点），使工程师开发人员能够准确针对薄弱点设计恰当的 EMC措施，并且使用 E1 评估 EMC措施的效果。E1 检测设备的搭建空间小，适宜于在电子元件开发人员的工作场地使用。E1 用户手册对EMC工作机制以及集成电路板去干扰的基本测量策略作出详细描述。E1 组套包括一个脉冲群干扰和静电放电干扰发生器、九种不同的电场和磁场源、以及其他各类附件。

S2 set

E1 磁场探头

电子设备和电子元件在干扰作用下会产生快速瞬态脉冲磁场，S2探头组中包含的有源和无源磁场探头可以无反馈地测量这些快速瞬态脉冲磁场。借此就可以分析爆冲或ESD-过程，爆冲或ESD会对受测物产生干扰。磁场探头通过光纤连接把测得的信号传到SGZ 21的光学输入口。S2探头组只能与脉冲群发生器SGZ21 连接使用。

S2 set, E1 磁场探头