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Langer 扫描仪

发布时间: 2025-02-26 22:38

用于定位高分辨率测试系统的定位系统

商品信息

Langer 扫描仪

用于定位高分辨率测试系统的定位系统

ICS 105 set四轴定位IC扫描仪

ICS 105型集成电路扫描仪，可对集成电路和小型组件进行高频近场测量。根据使用的探头情况，可在 (50x50x50) mm 的空间范围内对磁场或电场进行测量，并在电脑上显示测量结果。此外，探头可自动旋转以确定磁场的准确方向。可单独订购的 ICR 型近场微探头适用于 1.5MHz 至 6GHz 频率范围内的测量，空间分辨率可达 50μm。

FLS 106 IC set四轴定位IC扫描仪

FLS 106型IC扫描仪可以在电子组件的集成电路上方，借助ICR-近场微探头对频率在6GHz以内的高频磁场或电场进行高分辨率（50-100µm）测量。

使用近场探头和带有SH 01探头支架的场源
使用ICR-探头（旋转单元）
工作状态下对集成电路的采样
四轴定位系统
可提供一个扫描台

FLS 106 IC set, IC Scanner 4-Axis Positioning System

FLS 106 PCB setPCB 扫描仪（三轴定位系统）

FLS 106 PCB 型扫描仪组的目的是，方便近场探头检测电子元件组的磁场或电场。扫描仪和近场探头系列（从SX到LF）的组合可以测量频率范围为100kHz-10GHz的电场或磁场。该近场探头可以在元件组上方沿三个轴运动。近场探头在受试设备上方的光学定位可以在数字显微相机的协助下完成。扫描仪支持防撞功能，在探头沿垂直方向运动触碰到受试设备时停止运动。
在电脑上通过ChipScan-Scanner软件可以控制FLS 106 PCB型扫描仪。这款软件同时可以从频谱分析仪中读取测量数据，（2D或3D）图像，以及输出测量数据（CSV文件）。

FLS 106 application with board, near-field probe and microscope camera