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射频功率直接注入法 传导抗扰度
    发布时间: 2020-06-28 21:30    

 IEC62132-4规定了采用直接射频功率注入(DPI)法测量IC的抗干扰性能，射频信号直接注入在芯片单只引脚或一组引 脚上，耦合电容同时起到了隔直的作用，避免了直流电压直接加在功放的输出端。

射频功率直接注入法 传导抗扰度

主要标准：  

IEC 62132-1:Integrated circuits  -  Measurement  of  electromagnetic  immunity  -  Part  1:  General  conditions  and definitions

IEC 62132-4:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method

        测试介绍：  

  IEC62132-4规定了采用直接射频功率注入(DPI)法测量IC的抗干扰性能，射频信号直接注入在芯片单只引脚或一组引 脚上，耦合电容同时起到了隔直的作用，避免了直流电压直接加在功放的输出端。
      测试配置布置图: 

  主要测试设备：传导抗扰度测试系统、功率注入探头等.
       测试环境：屏蔽室

                                          


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