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IC 带状线法 辐射发射测试
    发布时间: 2020-06-28 21:17    

IC带状线法可用于测量150 kHz至3 GHz范围内IC集成电路的电磁辐射发射。


IC 带状线法 辐射发射测试

  主要标准：

IEC  61967-1: Integrated  circuits  -  Measurement  of  electromagnetic  emissions  -  Part  1:  General  conditions  and definitions

IEC  61967-8:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method

 测试介绍：  

IC带状线法可用于测量150 kHz至3 GHz范围内IC集成电路的电磁辐射发射。测量时被测IC应被安装在有源导体和IC带 状线布置的接地平面之间的EMC测试板（PCB）上。

  测试配置布置图

主要测试设备：带状线等

 测试环境：屏蔽室

                                                             

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