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1Ω/150Ω直接耦合法传导发射测试

发布时间: 2020-06-28 20:32

IEC61967-4规定了两种测试方法：1Ω测试法和150Ω测试法。

商品信息

主要标准：
IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and deﬁnitions
IEC 61967- 4: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method

测试介绍：

IEC61967-4规定了两种测试方法：1Ω测试法和150Ω测试法。1Ω测试法用来测试接地引脚上的总骚扰电流，150Ω测试法用来测试输出端口的骚扰电压。离开芯片的射频电流汇到集成电路的接地引脚，因此对地回路射频电流的测量可较好地反映集成电路的电磁骚扰大小。
为实现150Ω共模阻抗与50Ω的测试系统阻抗的匹配，必须采用阻抗匹配网络。