表面扫描法辐射发射测试

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表面扫描法辐射发射测试

发布时间: 2020-06-28 20:22

表面扫描法是评估集成电路表面近电场和近磁场元件的一种方法。

商品信息

主要标准：
IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and deﬁnitions
IEC 61967- 3: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions -Part 3: Measurement of radiated missions - Surface scan method
测试介绍：
表面扫描法是评估集成电路表面近电场和近磁场元件的一种方法。
这一测量方法可以应用在任何一个集成在印刷电路板上、方便于使用探针测量的集成电路上。通过对集成电路表面进行电场和磁场扫描，能够得到关于电磁辐射源相对强度的相关信息。运用该方法可以准确地定位芯片上集成电路封装内电磁辐射量过大的区域。
测试配置布置图：
主要测试设备：IC扫描仪等
测试环境：屏蔽室