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磁场探头法

发布时间: 2020-06-28 21:13

磁场探头法使用微型三片式结构磁探针测量被测集成电路的电源引脚和I/O引脚上的射频电流。

主要标准：

◆IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and deﬁnitions

◆IEC 61967-6: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

测试介绍：

磁场探头法使用微型三片式结构磁探针测量被测集成电路的电源引脚和I/O引脚上的射频电流。该探头以受控方式测量标准化测试板上电源或I/O带导体上方指定高度处的磁场。使用相应公式，可根据测量磁场计算射频电流。由于磁场探头放置位置的准确，此方法有高度的重复性。此外，该方法的频率范围可进行扩展，在不影响精度的情况下，可以获得更高的频率。测算电源或I/O带导体上的射频电流是表征和比较集成电路的一种简便方法。