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[●集成电路EMC测试项目]

非同步瞬态注入法

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<p style="text-indent: 28px; line-height: 1.75em;"><span style="font-family: 微软雅黑; font-size: 16px;">与受试器件（DUT）运行不同步的骚扰通过耦合网络施加给IC引脚。</span></p><p><br/></p>
[●集成电路EMC测试项目]

同步瞬态注入法

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<p style="text-indent: 28px; line-height: 1.75em;"><span style="font-family: 微软雅黑; font-size: 16px;">电瞬态是电气和电子装置电磁环境的常见组成部分之一。</span></p><p><br/></p>
[●集成电路EMC测试项目]

射频功率直接注入法

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[●集成电路EMC测试项目]

IC 带状线法

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<p style="text-indent: 28px; line-height: 1.75em;"><span style="font-family: 微软雅黑; font-size: 16px;">IC带状线法可用于测量150 kHz至3 GHz范围内IC集成电路的电磁辐射发射。</span></p><p><br/></p>
[●集成电路EMC测试项目]

磁场探头法

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<p style="text-indent: 28px; line-height: 1.75em;"><span style="font-family: 微软雅黑; font-size: 16px;">磁场探头法使用微型三片式结构磁探针测量被测集成电路的电源引脚和I/O引脚上的射频电流。</span></p><p><br/></p>
[●集成电路EMC测试项目]

法拉第笼工作台法

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<p style="text-indent: 28px; line-height: 1.75em;"><span style="font-family: 微软雅黑; font-size: 16px;">工作台法拉第笼法用于评估可在小尺寸的线路板上模拟其独立功能的集成电路。</span></p><p><br/></p>

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