概述
多频点辐射抗扰度试验方法会在一定程度上提高辐射抗扰度试验的严酷度。由于在试验的驻留时间内,多个频率干扰信号使EUT暴露于比标准要求单频率干扰信号更多的能量。这种过度曝光可能导致EUT性能下降而进入“伪失效”的状态,进而影响结果判断。因此, EUT即使没有通过多频点试验,也并不意味着其一定未能通过标准所要求等级的单频点测试。
所以当EUT在多频点试验期间发生性能降低时,需要执行进一步的单频点试验来确定其实际的辐射抗干扰能力。
总之,在进行试验时,首先使用多频点步骤进行快速扫描,如果 EUT 通过多频点扫描,则试验结束,并判定试验结果为符合要求。
如果没有通过多频点扫描,则需进一步通过单频点试验进行重新试验确认,并以单频点试验结果为最终试验结果。
--本文摘自由浙江诺益科技有限公司参与编写的《电磁兼容问题百问百答》